| 1. | Based on this model , this method is then used to design some other special control schemes , such as skewness distributions , small batches , small shifts , and attribute control charts 把这种方法扩展到一些特殊的控制图的设计当中,本文除了讨论测量值服从正态分布的情形外,还分别分析了偏态分布、小批量生产、小波动的探测和计数型控制图等情形时最优控制方案的设计。 |